Transmission electron microscope (الميكروسكوب الإلكتروني النافذ)

 

البنية الداخلية للمواد على المستويين الذري والنانومتري، بما في ذلك علم البلورات والعيوب وتوزيع الطور.

 

Investigates the internal structure of materials at atomic and nanometer scales, including morphology, crystallography, defects, and phase distribution.

 

Atomic force microscope (الميكروسكوب الذرى الماسح)

تُستخدم لتوصيف تضاريس السطح وخشونته وخصائصه الميكانيكية أو الكهربائية على المستوى النانوي.

 

Used to characterize surface topography, roughness, and mechanical or electrical properties of materials at the nanoscale.

 

Scanning electron microscope (الميكروسكوب الإلكتروني الماسح)

فحص مورفولوجيا السطح والخصائص الميكروية للمواد بدقة مكانية عالية.

 

Examine surface morphology and microstructural features of materials with high spatial resolution.

 

Critical point dryer (مجفف النقطة الحرجة)

تُستخدم لتجفيف العينات الحساسة دون انهيار أو إتلاف بنيتها الميكروية والنانوية.

 

Used to dry delicate samples without collapsing or damaging their micro- and nanostructures.

 

Smart coater (المطلي الذكي)

ترسيب طبقات موصلة رقيقة على العينات قبل تحليلها بالمجهر الإلكتروني

 

Deposits thin conductive coatings onto samples prior to electron microscopy analysis.

 

Field emission electron microscope

(الميكروسكوب الإلكتروني ذو انبعاث حقلي)

 

يستخدم للتصوير فائق الدقة للأسطح النانوية

 

Used for ultra-high-resolution imaging of nanostructured surfaces.